WaferCheck 150半导体晶圆分析仪是一款测量半导体晶圆/太阳能电池的时间分辨光致发光(TRPL)的完整装置,操作简便。可以测量皮秒到微秒量级的半导体材料荧光 寿命,为晶圆外延片生产工艺优化控制提供快速可靠的数据反馈。采用时间分辨光致发光TRPL技术获得各点的寿命均匀度来可用来分析控制晶圆、太阳能电池的 质量,可为高效高质量生产提供可靠保证。
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