基于Phasics四波横向剪切干涉专利技术,SID4-HR波前分析仪提供了一个无与伦比的相位和强度高分辨率(400x300测量点)图。由于它测量发散光束不需要中继镜头,简单对齐即可测试光学元器件。其高分辨率确保结果的重复性。高分辨率还开辟了波前传感的新用途:等离子体密度测量,相位成像显微…
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