本公司根据教学大纲要求自主研发固定波长激光椭圆偏振仪用于大学近代物理实验，仪器集光、机、电于一体，操作简单，性能稳定，可实现无接触、无损伤精确测定超薄薄膜厚度。

主要技术参数

波长： 650nm  （半导体激光器 ）

入射角范围 ： 固定70度（可按需定制）

样品台尺寸：Ø 110 mm

测量模式：  反射

测量方式：  自动完成信号测量

膜厚精度：  ±1nm （薄膜厚度在10-100nm时）

主要特点

WINXP友好操作界面

实测光学常数种类：复折射率、复介电函数、吸收系数、反射率。

主要用途

1.各种功能材料的光学常数测量和光谱学特性分析；

2.测量薄膜材料的折射率和厚度； 测量对象包括：金属、半导体、超导体、绝缘体、非晶体、超晶格、磁性材料、光电材料、非线性材料；测量光学常数：复折射率的实虚部、复介电常数的实虚部、吸收系数a、反射率R。