产品简介
SWIR(短波红外)成像是无损检测的绝佳解决方案。它可以根据物体表面SWIR光谱特征区分材料,并提供安全便捷的方法来保证产品质量,包括检查包装中的液体质量,检查密封容器里的内容以及检测农产品中的损坏和杂志等。另外,还可以在半导体工业中进行硅晶圆的太阳能电池缺陷检查。
将SWIR成像方式集成到产线中需要高行频,高灵敏度的相机,针对这些应用,滨松推出了新型InGaAs线阵扫描相机C15333-10E。
产品特点
• SWIR高灵敏度,覆盖950 nm到1700 nm的光谱范围
• 大视场高分辨率,1024像素线阵
• 高行频输出,最大线路速率:40 kHz
• 紧凑轻巧的设计:49 mm (W) × 49 mm (H) × 100 mm (D) (Does not include protrusions.),
• 小巧轻便,重量约250克
• 高质量的图像以及优秀的矫正功能
• GigE Vision接口
主要应用
• 食品和农产品(损坏检查,质量筛选,材料歧视等)
• 半导体(硅晶片图案检查,EL / PL的太阳能电池检查等)
• 工业(水分,泄漏检测,容器检查等)
光谱响应曲线
参数指标
参数 | 指标 |
型号 | C15333-10E |
成像设备 | InGaAs line sensor |
有效像元数 | 1024(H)×1(V) |
像元尺寸 | 12.5μm×12.5μm |
有效面积 | 12.8mm(H)×0.0125mm(V) |
满阱容量 | Gain 0: 4.0 M electrons Gain 1: 0.76 M electrons Gain 2: 0.16 M electrons Gain 3: 0.051 M electrons |
读出速度 | Internal mode: 40 kHz (21 μs exposure time) Sync readout: 40 kHz |
曝光时间 | 21 μs to 1 s (1 μs step) |
外部触发输入 | Sync readout |
图像处理功能 | Background subtraction, Real time shading correction |
接口 | Gigabit Ethernet |
A/D转换器 | 14 bit |
镜头卡口 | C Mount |
供电 | DC 12V |
量子效率 | above 60 % (1100 nm ~ 1600 nm) |
功耗 | 6W max |
推荐环境工作温度 | 0℃ to +40℃ |
环境工作湿度 | 30%-80%(风冷无冷凝) |
环境存储温度 | -10℃ to +50℃ |
环境存储湿度 | 90%最大(无冷凝) |
应用实例
半导体内部检测: