特点:


应用:

荧光寿命成像和相关分析软件SymPhoTime 64可以被用于时间分辨共聚焦数据采集实验,如:


参数:

数据采集

可联用TCSPC模块

HydraHarp 400, PicoHarp 330, PicoHarp   300, TimeHarp 260, MultiHarp 150TimeHarp 200 (仅数据导入)

可联用荧光系统

MicroTime 200
  MicroTime 100

激光扫描显微系统 (LSM),支持Nikon, Olympus Zeiss品牌
  单独的 TCSPC 模块
  通过TCP/IP接口远程控制 (支持ZEN NIS Elements)

探测通道数量

 8 detectors

采集模式

单点采集,多点采集,2D成像(XYXZYZ)3D成像(XYZ),定时成像(XYT),用于调节系统时使用的示波器模式

采集预览

FLIM, FCS, FLCS FCCS, Time Trace, TCSPC柱状图
  最多同时在线显示4种数据

自动化测量

Z轴逐层成像定时成像图片缝合多点测量

硬件控制

PDL 828 "Sepia II" 激光驱动器
  E-710, E-725, E-727和宽范围扫描仪控制器(Physik   Instrumente)

MicroTime 200的快门系统
  MicroTime 200 中宽视场荧光相机IDS uEye USB3

数据分析

总体特点

时间门控
  Binning

TCSPC binning
  TCSPC拟合(15多指数衰减拟合)

最小平方拟合最大可能性估算拟合, IRF解卷积拟合,尾部拟合,自举误差分析

TCSPC曲线的全局化分析

图形化交互界面

成像

FLIM, FLIM-FRET, 荧光强度FRET, 各向异性成像, (时间门控荧光强度成像

Pattern Matching, 快速Pattern Matching
  可调寿命颜色分配及对比度
  特定区域分析 (ROI)

用于相位分析的 Bin输出(通过荧光动力学实验室开发的第三方软件Globals

相关分析

FCS, FCCS, FLCS, PIEFCS
  STED-FCS, STED-FLCS
  FCS 拟合 (拟合模型扩散常数三重态构象分析质子化高斯PSF, 用户自定义自举误差分析)
  全局分析
  FCS校准
  反聚束/符合相关,总相关

FRET

PIE (脉冲交错激发)
  渗滤校正
  FLIM-FRET

STED

STED, 门控STED,   STED-FLIM, 交错脉冲 STED及共聚焦分辨率估计

荧光强度Trace

分子闪烁(On/Off 柱状图), 计数率柱状图 (PCH), 爆发量柱状图强度门控制TCSPC, 荧光寿命 Traces, 寿命柱状图, BIFL

稳态各向异性

包含物镜校正系数

导出数据格式

BMP, ASCII, TIFF, BIN

用户自定义脚本编译 (STUPSLANG)

用户自定分析步骤拟合功能多条件筛选
  整合控制外部其他器件