产品简介：
         F42 2D厚度显微测量系统可以进行显微区域的高分辨率厚度测量，能够绘制超过一百万点的厚度测绘图，每一点的测量面积最小为3微米。利用集成的CCD摄影机，实时视频功能使其易于指明准确的测量点。当被测点置于视野内以后，只要在它周围划一个框进行分析即可。对屏幕上每一单个像素都能进行厚度测量，产生的测量点尺寸最小为3微米。这样即便在沟槽和空洞最狭窄的地方也能进行测量。利用F42系统的测绘能力可以检查结构的均匀性。点击一次，就能计算超过一百万个独立的厚度并以易于阅读的渐变测绘方式显示出来。可以自动计算出平均厚度和其他统计结果，并把所有超出范围的厚度测量情况通知用户。利用拟合优度标准，可以在排除所有其他区域的同时对感兴趣的区域进行测绘。  
产品应用： 
         印刷电路板
         半导体制造
         液晶和有机发光二极管显示器