phasics SID4 IR-MCT波前传感器

       SID4 IR-MCT集成了 Phasics四波横向剪切干涉专利(专利号CN200780005898)技术和新一代冷却MCT探测系统。这种独特的波前像差分析仪提供了一个非常高分辨率和超高灵敏度,波长范围跨越中波和短波红外范围(从1.25.5µµm m)。非常适合微弱光红外光源,如物镜和透镜测试的黑体源或FTIR激光束测量。

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              SID4 IR-MCT                          光学元件测量                                激光测量

特点:

由于其独特的专利技术技术,PhasicsSID4 IR-MCT波前传感器具备以下特点:

1.高分辨率160x128测量点

2.高灵敏密度3nmRMS@3μW/cm2

3.宽光谱消色差1.2-5.5μm

4.高精度:即便在极度微弱光情况下

5.高数值孔径:高达F/1且不需要转接透镜

6.新一代冷却MCT探测器

 

应用:

光学测试:SID4 IR-MCT是表征红外目标和镜头的非常好的设备,能提供MTF数据以及实时测量畸变和WFE。它的高灵敏度可用于黑色体频谱滤波的高光谱测试工作。

激光束测量:SID4 IR-MCT是具备微光红外源的测试设备,如量子级联激光或FTIR激光。能完整表征光束参数(像差,M²,强度分布,光束参数…)。

SID4 IR-MCT产品参数:

波长范围

1.2-5.5μm

通光孔径

9.6 x 7.68 mm2

空间分辨率

60 µm

采样点(相位/强度)

160 x 128 (> 19 000 points)

相位相对灵敏度

3nm RMS@3μW/cm2

最大数值孔径

F/1

动态范围

300μm

采样频率

140 fps

实时分析频率

20 fps (full resolution)

数据接口

Giga Ethernet

尺寸(w x h x l)

135 x 140 x 240 mm

重量

3.5kg

 

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