Olympus WLI 无限远校正干涉物镜采用先进光学设计，兼具高数值孔径和宽视场，可在大面积范围内捕捉精细表面细节，实现清晰成像。每个物镜均配有内置调节环，可补偿温度引起的焦点漂移，即使在不稳定的环境条件下也能保持稳定性和一致的测量精度。该系列物镜设计用于搭配焦距为 180mm 的筒镜使用，提供 10 – 50X 放大倍率。Olympus WLI 无限远校正干涉物镜非常适合 3D 表面测量和轮廓测量应用，包括半导体检测、精密加工、光学镀膜评估和微电子表征。