公司介绍

阿秒科技（Attostek）成立于2021年，专注于相机、镜头和光学系统的研发、生产和销售。我们的产品涵盖整个光谱——从极紫外（EUV）到可见光，再到短波红外（SWIR）、中波红外（MWIR）和长波红外（LWIR），服务于工业检测、科学研究、生物医学应用和半导体等多个领域。我们致力于提供先进且全面的相机和镜头组合，旨在帮助客户“SEE EVERYTHING YOU NEED”，为合作伙伴带来竞争优势。

产品介绍

该 SMS 系列短波红外模块化显微系统将成像范围从可见光谱拓展至 900–1700 nm 短波红外波段。系统采用标准玻璃光学元件与高灵敏度 InGaAs 成像模块，既保证了与传统显微镜平台的良好兼容性，又可实现对硅基材料的穿透检测。配备标准 C 接口，可与多种短波红外相机完全兼容。

适配相机

型号	SWIR051AU	SWIR0503AU	SWIR035AU	SWIR033AU
传感器型号	Sony IMX990	Sony IMX991	Sony IMX992	Sony IMX993
靶面尺寸	1/2″	1/1.4″		1/1.8″
像元尺寸	5μm×5μm		3.45μm×3.45μm
分辨率	1.3MP	0.33MP	5.0MP	3.0MP
帧率	392fps	753fps	135.7fps	176fps
数据接口	USB3.0
曝光时间	15us-60s
尺寸	80mm×80mm×45.5mm
制冷	Built-in TEC

管镜

型号	SMS-T090VA	SMS-T100VA	SMS-T180VA
物镜支持	支持常规无限远SWIR显微物镜	支持高数值孔径无限远SWIR显微物镜	支持常规无限远SWIR显微物镜
管镜焦距	90mm	100mm	180mm
成像光路像面尺寸	24mm(使用180mm焦距管镜)	33mm(使用200mm焦距管镜)	24mm(使用180mm焦距管镜)
成像光路光谱范围	900-1700nm
相机接口	C 接口
照明方式	同轴落射式科勒照明
照明光源	1550/1400/1300/1200nm LED 光源

物镜

品名	放大	数值孔径 NA	工作距离 WD	焦距	分辨率	物镜焦深	FN	重量
M Plan Apo NIR 5X	5X	0.14	37.5 mm	40 mm	2.0 μm	14 μm	24 mm	220 g
M Plan Apo NIR 10X	10X	0.26	30.5 mm	20 mm	1.1 μm	4.1 μm	24 mm	250 g
M Plan Apo NIR 20X	20X	0.4	20 mm	10 mm	0.7 μm	1.7 μm	24 mm	300 g

点光源

参数	LED1200	LED1310	LED1450	LED1550
波长	1200(±10)nm	1310(±15)nm	1450(±20)nm	1550(±20)nm
直径	6mm
输入电压	1.35V / 1A	1.3V / 1A	1.25V / 1A	1.2V / 1A
光功率	45mW/cm²	110mW/cm²	50mW/cm²	60mW/cm²
功率	1.35W	1.3W	1.25W	1.2W
工作距离	5-60mm
半波宽	30nm（半波全宽）
工作寿命	30000 小时，光衰小于 30%
外壳材质	铝合金（表面处理：氧化黑）
散热模式	被动散热（警告：环境温度超过 30℃时，需强制散热或降载运行）
线缆长度	500 (±20) mm
延长线	2m/3m/5m，长度可定制
插头	SM3P，可根据需求定制
重量	50g
建议搭配控制器	HS-DCACCC-5-1A-2DF

产品应用案例

Attostek的SWIR模块化显微系统专为下一代材料表征和电子测试设计，提供卓越的精度和清晰度。
在半导体检测中，它能揭示硅晶圆和集成电路中传统系统难以检测的次表面缺陷、微裂纹、隐藏的芯片断裂和焊接缺陷。
在材料科学研究中，它识别陶瓷、复合材料和高性能材料中的隐形裂纹和结构缺陷。
在工业无损检测中，它在不拆卸的情况下进行非侵入式地下部件分析，准确检测硅基材料和陶瓷部件的内部缺陷。

芯片隐裂检测

陶瓷隐裂检测