Nikon CFI S 平场荧光超长工作距离 (ELWD) 物镜采用超长工作距离设计，可对大型样品及不同厚度的培养容器进行高分辨率成像。这款物镜凭借覆盖近紫外至近红外波段的宽光谱透射率，可实现多种先进显微技术下的多样化成像。该物镜无需使用浸没介质即可提供更高的灵活性并且在观察过程中可以保护脆弱样本。Nikon CFI S 平场荧光超长工作距离 (ELWD) 物镜提供多种放大倍率选择并支持常见的观察模式，包括明场、暗场、DIC、相差和偏光显微。这款物镜非常适合常规荧光、明场、钙成像及 DIC 等应用。