型号

AOI-150型

检测目标

各类光学元件、玻璃、金属等表面瑕疵检测

可扫描检测最大尺寸（mm）

150´150

可分辨的疵病类型

划痕、麻点、倒边、崩边等

可检出最小瑕疵尺寸(mm)

³ 10

检测系统主机尺寸

(工作面长mm×宽mm×高mm)

800mm×750mm×1200mm

重量（公斤）

> 200

疵病检测分析软件包（配高速服务器）

数字化报表：在线输出划伤、麻点、崩边等尺度、图像。