产品说明：
※特长：■适用于车间加工过程中的检测■能进行整盘检测※用途:■平面光学元件面形精度测量■晶体、光盘、磁头等元器件面形精度测量■平面元件光学均匀性测量※规格：最大测量口径  Φ150mm 测量方式 菲索干涉原理  显示方式 CCD显示 标准参照镜面形精度 p-v：λ/20 光源 氦氖激光器 波长 632.8nm 监视器 9 电源 210~230V  40~60Hz 最佳工作温度 20°C～25°C 尺寸 450×400×800mm  重量 约80Kg