产品介绍：
        测量小聚焦光斑一直是激光光束分析仪的难题之一，主要问题是光斑的聚焦性太强而且光斑太小。如果是连续光，使用狭缝扫描型NanoScan光束分析仪就可以解决这个问题，但是有时光斑太小，它的功率密度就会超过狭缝材料的损伤阈值，从而损伤狭缝。如果是脉冲光，就需要使用相机型光束分析仪，但是此时常规的衰减器很难也不可能起到合适的作用。聚焦光斑分析仪通过使用成像透镜并在透镜后进行衰减就解决了这一难题，利用透镜系统的放大作用，聚焦光斑分析仪可以精确测量相机型光束分析仪不能测量的小光斑，整套系统由USBPro或FireWire BeamPro相机、成像透镜、一对棱镜反射衰减器和ATP-K连续可调衰减器（带ND2.8固定衰减器）组成，可以把10W的光束衰减到相机可以接受的pW水平，但不影响光束质量的测量结果。