产品介绍:
LD8900远场分析仪专用于测量角度辐射光源的强度,直接实时测量远场的动态范围高于24dB,角度采样分辨率为0.055°,角度扫描范围为+/-72°(144°)。是测量多种光源的光辐射通量的理想工具,包括垂直腔面发射激光器,激光二极管,光纤和光波导等。可以对远场进行三维测量,具有比CCD更高的分辨率。
LD8900远场分析仪可以采用硅探测器(工作波长320-1100nm)或者铟镓砷探测器(工作波长800-1700nm),有标准的2毫米宽度的入射光狭缝,对于大光源,像发光二极管或激光二极管阵列等,可以采用10毫米宽度的入射光狭缝。是激光二极管、光纤等产品研发、工业生产及应用中的标准测量工具。
LD8900用于测量数值孔径、漫透射体的散射图样、光波导、光路中元件的影响(比如棱镜,滤波器,波导)、带尾纤的光源、单模和多模光纤;用于优化光纤、腔体、透镜、探测器、波导阵列、色散补偿器件、波分复用和解复用、其它光学器件的能量耦合。