产品介绍：
        利用测角方法来测量光学器件的3D轮廓，动态范围高达93dB，高动态范围可以在远场分布的远端提供更好的信噪比。所有的测量都是由直接嵌入在仪器测量区的发光光纤，平板波导，激光二极管或者发光二极管来完成。测量光纤时无需弯曲光纤既可得远场分布图，因为弯曲光纤会导致测量误差。实时的数据采集和报告功能，在工业制造和质量保证评估中很有用。
本产品有硅探测器（工作波长320-1100nm）和铟镓砷探测器（800-1700nm）可供选择，既可进行一维测量，也可进行三维测量，而且可在两者间方便转换。一维单扫描时可以测量数值孔径、模场直径和有效面积，三维多扫描时，可以测量数值孔径、模场直径、有效面积、角宽度、角中心、角峰值位置、相对功率等。