法国Phasics公司利用革新的四波横向剪切干涉技术研发的SID4波前探测器，具有如下独特技术优势：高分辨率的相位图，最高采样点可达400ｘ300；具有直接测量高发散光束的能力；消色差，匹配CCD整个探测范围，用于不同波长光而无需额外校准。

应用方向：   

激光束质量分析            生物成像                          光学系统成像质量测量

自适应光学                  热成像，等离子体表面物理       元器件面型、粗糙度分析