| 系统名称 | PLP系统 |
| 波长范围 | 200--850 nm，400 nm--900 nm |
| 探测器类型 | Czerny-Turner型 (带像差矫正环形镜) f=338 mm F3.9 |
| 光栅 | 同时可安装两个光栅 （40 gr/mm 到 1200 gr/mm可选） |
| 测量波长范围 | 280 nm (采用40 gr/mm) 到 10 nm (采用1200 gr/mm) |
| 波长分辨率 | 5.4 nm (采用40 gr/mm) 到 0.18 nm (采用1200 gr/mm) |
| 时间轴 | 1 ns 到 10 ms |
| 扫描重复率 | 最大20MHz |
| 激发波长 | 375 nm，405 nm，440 nm，470 nm，635 nm，650 nm |
| 激发脉冲宽度 | 70 ps (典型值) |
| 时间分辨率(拟合分析) | 10 ps |
特性
●同步多波长测量
由于荧光寿命在多波长无扫描的条件下测量，时间分辨型光谱可以在很短的时间内采集。
●二维光子计数
光子计数和条纹相机技术的结合实现了超高灵敏度和同步多波长测量。因为多波长的荧光现象可以被同步测量，即使极低荧光也能被有效地探测和测量，这是以前的方法不能提供的特性。
●优于100,000:1的宽动态范围
优于100,000：1的动态范围测量极低荧光。这能实现多组分荧光寿命的高精度分析。
●更短积分时间和更好信噪比测量荧光寿命
条纹扫描频率可以达到20 MHz。通过高速重复扫描的积分，高信噪比测量可以快速完成。
●涵盖从皮秒到微秒的荧光现象
由于扫描时间从1 ns到10 ms可调，从皮秒到微秒的宽范围荧光寿命测量成为可能。
●涵盖从UV到NIR的宽波长范围
两种条纹相机可选，分别具有200-850 nm和300-900 nm的感光范围
●温度控制皮秒激光二极管带来高精度测量
皮秒激光二极管可选作激发光源。当然其它类型的激光器也可采用。
●标准光学系统实现简单光学对准
应用 •光物理和光化学的初始研究 •表面和界面的微观环境和动态结构研究 •二维分子集合体，例如分子薄膜、LB膜、液晶和沉积膜等动态结构的研究 •激子动力学和量子尺寸效应的研究（例如半导体掺杂玻璃和量子线） •有机LED材料的时间分辨型荧光和磷光光谱评价 •光子晶体研究 •其他领域和荧光寿命相关的研究、评估和检测 条纹先机、光谱仪和延迟发生器的控制窗口显示在电脑显示屏上，易于修改时间标度等测量参数和监控波长选择。“自动延迟（Auto delay）”功能节省了每次时间标度改变时所需的计时。 计算后的荧光寿命数值被显示在同一屏幕上易于对比分析。 实现时间分辨型光谱显示是条纹相机提供的最大特点 显示每条曲线的半峰宽（FWHW）、峰位置和峰强度。 
软件●测量界面
●荧光寿命分析 
•电脑控制条纹相机、光谱仪和延迟发生器
•实时显示
●曲线分析 
•多组分分析
•同一屏幕的多个数据分析
•去卷积实现高精度分析
测量示例 
•时间分辨型光谱显示
•光谱和荧光衰减曲线的显示
•同一屏幕的多个数据加载和对比
外形尺寸