特点:
适合光束: 3 m ~ 45 mm
分辨率: 0.5 m
或 0.5 %
波长范围190 nm ~ 4
?m
M2
测量组件可选
ISO 11146 标准
适用于有限空间的狭窄探针
可前部固定
宽动态范围
强大直观的软件
可升级, BeamScope-P7
连接至 USB 2.0
实时测量:
X-Y
剖面测量
发散角
椭圆率,面心,高斯拟合
相对功率
典型应用
激光/半导体激光器特性测试
激光器组件的研发,校准,制造过程中的质量监测
激光器和激光器适用
-
晶圆/晶片特性测试
- 激光打印,打标
- 激光医疗
- 条形码扫描 …
等.
技术参数 :
波长范围:
190-1100 nm, 800-1800 nm
新热释电材料: .190-50
μm
分辨率: 0.1 μm
最小光束: 0.5 μm
扫描区域: 5 x 7
mm- 硅, 3 mm-
锗
二维平台: 23 x 43 mm
可选附件
M2 测量附件-USB 2.0
UV - IR
可选 190 ~ 4 μm
二维扫描平台,可分析区域23 x 45 mm
BeamScope P8产品技术指标
可测量源 | 连续或脉冲>5kHz ,5% 占空比。更高的占空比,效果更好 |
被测光束功率 | 见下面注释中的图表. |
光学动态范围 | 55 dB (= 300,000:1) [75 dB 用中性密度2.0薄膜] |
最大扫描区域形状 | 重要:为了精确测量,光束大小应该<
0.5 x 扫描范围.
|
被测量的光束直径/宽度 | 0.5 ?m to ~25 mm (默认高斯光束时,直径 1/e2 , 峰值的 13.5%) |
测量分辨率 | 0.5 ?m, 或被测光束直径的0.5%, 以较高者为准 |
测量精度 | ?1?m 或被测光束直径的?2% |
被测光束剖面 | X & Y |
被测剖面参数 | 高斯光束直径 |
显示的剖面
| 仅X , 仅Y, X & Y |
更新频率 | 1~ 2 Hz. 依赖于 PC 处理速度, 扫描剖面和设定的选项 |
数据分析
| 屏幕上所有被测参数可选Pass/Fail
色彩 |
功率测量 | 单位mW, dBm, dB, % 或用户输入(相对于一个用户提供的参考测量值.) |
源到狭缝距离 | 最小1.0 mm |
孔径尺寸(注解 2 ) | 重要: 见扫描区域 (上面 ) ,对于可测光束直径 |
波长范围 |
190~ 1150 nm |
固定 | ¼-20 & M6 螺纹安装孔 |
温度范围(包括附件) | 10o to 35o C |
最低PC要求 | USB2.0接口, Windows XP or Vista; 1024 MB RAM; 10 MB
硬盘驱动空间; |