RB-LT1000 系列大功率半导体激光芯片器件老化/寿命测试机
Burn-in/Lifetest Tester
 

产品概要：
在可控温度的工作台上，对封装之后（COS、TO56、C-mount、F-mount、CCP、Butter-fly等封装形式）的半导体激光芯片器件进行。
     -对贴片好的大功率COS、C-mount、TO封装模块实现长期寿命测试和短期老化测试
     -长期寿命测试型： 可对100个器件同时做加速寿命测试，对每个器件监测光功率和波长
     -短期老化型：可对250个器件同时做短期老化测试, 不监测光功率和波长
     -混合型： 业界首个兼顾长期寿命测试和短期老化测试的设备
     -标准电流范围0-18A （总负载功率比较小的情况下，最大电流可以到30A）
产品特点：
     -集成度高（可同时进行100pcs大功率激光芯片的测试）
     -实时监控和记录每工位激光芯片的状态：激光功率、峰值波长、光谱宽度
     -优良的内部洁净环境（百级-千级）
     -良好的安全防护及故障提醒机制
     -实时监控和记录设备的工作状态：多点位置温度、冷却水流量、电源电流&电压
     -友好的人机交互界面，操作简单，易于使用
     -提供脱机老化数据分析的专用软件
     -测试过程中，提供老化测试的停止和重新开启功能
     -可灵活增加、减少激光芯片的数量，每个激光芯片的老化时间独立累计
 
 

 
注：  深圳瑞波光电子有限公司基于在芯片设计、制造、测试的技术沉淀，为了更好的满足半导体激光器生产厂家在表征测试、老化及可靠性测试等方面的需求，从实际客户的使用角度，针对半导体激光器制作过程的关键环节推出成系列、自动化程度高的表征测试设备。
包括：
     -探针台：外延片的表征测量（EL， PL，方块电阻，欧姆接触电阻),  芯片失效成像（失效分析功能部分不对外销售，只提供测试分析服务）
     -Full bar测试机：对裸巴条上管芯的并联表征测量； MCC封装巴条的不通水情况下的测试
     - 单管bar测试机：对裸巴条上独立管芯的逐点测试
     -COS测试机：对贴片好的COS、C-mount、TO测试
     -器件寿命/烧测测试机：对多工位器件在线功率和波长监测的寿命和老化测试
     -模块测试机：实现对光纤耦合模块的表征测量
 
  公司还持续地开发新的产品来满足顾客不断增加的需求。 顾客的利益一直被放在首位，为顾客提供高品质、高性价比的激光器芯片和测试设备是公司一贯追求的目标。