法国Phasics--高分辨率波前分析仪/波前传感器/剪切干涉仪

法国PHASICS公司自主研发的波前传感器波前分析仪、波前探测器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析仪相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析,眼科虹膜定位波前像差引导等提供了解决方案!

   

法国PHASICS公司自主研发的波前传感器波前分析仪、波前探测器是基于四波横向剪切干涉技术,对哈特曼掩模技术进行了大的升级、改进。PHASICS波前传感器将400X300的超高分辨率和500um的超大动态范围结合在了一起。可以满足不同的客户的应用需求,可对激光光束进行光强、位相、PSF(点扩散函数)、MTF(调制传递函数)、OTF(光学传递函数)、波前像差、M²等进行实时、简便、快速的测量。

PHASICS波前传感器波前分析仪、波前探测器--技术优势:

高分辨率的相位图,分辨率可达400x300。

具有直接测量高发散光束的能力

消色差,匹配CCD整个探测范围,用于不同波长光而无需额外校准。

PHASICS波前传感器波前分析仪、波前探测器--应用方向:

激光束质量分析

自适应光学

光学元件表面测量

生物成像

热成像,等离子体表面物理

法国PHASICS波前传感器波前分析仪、波前探测器主要型号相关参数:


型号 SID4 SID4-HR SID4-DWIR SID4-SWIR SID4-NIR SID4-UV SID4 UV-HR
孔径 3.6 × 4.8 mm2 8.9 × 11.8 mm2 13.44 × 10.08 mm2 9.6 × 7.68 mm2 3.6 × 4.8 mm2 7.4 × 7.4 mm2 8.0 × 8.0 mm2
空间分辨率 29.6 μm 29.6 μm 68 μm 120 μm 29.6 μm 29.6 μm 32 μm
采样点/测量点 160 × 120 400 × 300 160 × 120 80 × 64 160 × 120 250 × 250 250 × 250
波长 400 nm ~ 1100 nm 400 nm ~ 1100 nm 3 ~ 5 μm , 8 ~ 14 μm 0.9 ~ 1.7 μm 1.5 ~ 1.6 μm 250 ~ 450 nm 190 ~ 400 nm
动态范围 > 100 μm > 500 μm N/A ~ 100 μm > 100 μm > 200 μm > 200 μm
精度 10 nm RMS 15 nm RMS 75 nm RMS 10 nm RMS > 15 nm RMS 20 nm RMS 10 nm
灵敏度 < 2 nm RMS < 2 nm RMS < 25 nm RMS 3 nm RMS (高增益)
< 1 nm RMS (低增益)
< 11 nm RMS 2 nm RMS
@ 250 nm, 2 μJ/cm2
0.5 nm
采样频率 > 100 fps > 30 fps > 50 fps 25/30/50/60 fps 60 fps 30 fps 30 fps
处理频率 10 Hz (高分辨率) 3 Hz (高分辨率) 20 Hz > 10 Hz (高分辨率) 10 Hz > 2 Hz (高分辨率) 1 Hz
尺寸 54 × 46 × 75.3 mm 54 × 46 × 79 mm 85 × 116 × 179 mm 50 × 50 × 90 mm 44 × 33 × 57.5 mm 53 × 63 × 83 mm 95 × 105 × 84 mm
重量 250 g 250 g 1.6 kg 300 g 250 g 450 g 900 g






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