C8000-30使用滨松公司制造的超高灵敏度背照式CCD，在紫外、可见光和近红外波段具有极高的量子效率。其在120nm处的高紫外灵敏度对半导体掩膜检测以及测量等应用十分有利。此外，近红外波段的高灵敏度可用于荧光测量、近红外激光二极管测量等等。

特性：

--紫外到近红外波段高灵敏度成像（200 nm处紫外灵敏度超过60%，650 nm处近红外超过90%）

--实时背景减除

--递归滤波（2, 4, 8, 16, 32 以及 64帧可选）

原理：

普通的前照式CCD结构下，感光像素具有电荷转移功能，该功能需要用半透明的多晶硅电极遮住前表面的感光像素，多晶硅电极吸收了一部分相应波长入射光子。尤其是对于紫外光，是不能穿透电极到达感光像素的。为了避免这一弊端，背照式CCD将CCD翻转，使CCD的背部薄到10-15 µm，而入射光子从CCD背面进入CCD，这样多晶硅就不会出现在光入射路径上。这样，就可以获得超过90%的量子效率。

配置：

规格表：

读出速度

光谱响应：