mOSW-C1/mISW-C1 光开关

型号：mOSW-C1/mISW-C1 名称：mOSW-C1/mISW-C1 光开关

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型 号：mOSW-C1/mISW-C1名 称：mOSW-C1/mISW-C1 光开关产品简介：mOSW-C1 光开关模块解决方案和 mISW 光开关基于第四代仪器类 Viavi 光开关技术构建。mOSW-C1 mISW-C1 在跨网络光切换

详细信息：

      制造测试自动化对于降低产品成本至关重要，而光开关是任何自动化测试系统的核心。Viavi mOSW-C1 光开关模块解决方案和 mISW 光开关基于第四代仪器类 Viavi 光开关技术构建。mOSW-C1/mISW-C1 在跨网络光切换、监控和制造应用中拥有出色的性能和可靠性，并且具有小巧的体积。
      大型固定格式 19 英寸 Viavi 机架安装系统中才有的性能和重复性首次在一个模块化插件或开关盒中得以实现。制造工程师再也不用在选择测试系统尺寸和系统性能时左右为难。利用mOSW-C1/mISW-C1 可将切换系统的尺寸缩小多达3/4，同时性能达到了尺寸大很多的传统系统的水平。开关速度提升了1/2，显著节省了连接密集型架构的测试时间。
      这些开关是 MAP-200 系列的模块化插卡。它拥有应用范围广泛的光学模块，是光学行业细分市场中制造测试自动化的热门选择。这包括无源元件、收发器和线路板卡的制造。由于 MAP-200 可通过远程 VNC、以太网、GPIB 或本地 GUI 进行高级连接，显著简化远程制造站点的调试工作，因此成为复杂自动化架构的一个自然选择。

主要优势

     可提供所有类型的光交换，与数据速率和传输格式无关
     不管开关尺寸如何，对系统动态范围的影响都能达到最小，并且从 1x2 至 1x176 的所有配置都能实现低损耗
     灵活的 SCPI 远程接口使用户能够使用 MAP-200样式的命令对开关进行编程，或保持与Viavi SB/SC 系列光开关的向后兼容
     保证超低的 0.04 dB PDL 和 ±0.005 dB 重复性，在单输入版本上可以大幅降低测量不确定性
     全新 PTRIM 选件可测量内联功率，并且可在连接的端口上增加最多 20 dB 的粗可编程损耗
     1C、2D（双工）和 2E 输入配置实现了节省成本的架构，可减少所需的开关数
     扩张光束技术确保了多模开关是“形式上透明的”，并且不会干扰模式分布，从而大大简化了传输测试或带有符合 IEC 标准模式启动的测试

应用

     多端口组件、模块和线路板卡的测试系统自动化
     管理复杂的制造测试顺序
     针对长期可靠性进行测试
     与 MAP-200 mORL-A1 模块搭配使用来测试多纤芯连接器

安全性

     安装在MAP-200机箱中时，MAP光开关符合CE、CSA/UL/IEC61010-1和LXI C类要求。

光学性能

开关性能提升了测试良品率
      开发自动测试系统的工程师必须考虑光开关对正在开发的系统性能的影响。
      为了应对测试的不确定性，用户必须使用更严格的内部规格，以确保设备不会错误地通过。这样就必然会有一定百分比的可以发货并产生收入的装置被拒绝。测试良品率的定义是：通过内部规格测试的设备数相对于通过外部规格测试的装置数的百分比。开关插入损耗 (IL)、偏振相关损耗 (PDL)、重复性和稳定性都会在自动测试系统中导致额外的不确定性。选择 mOSW-C1/mISW-C1 将能大程度地降低开关对测试良率的影响，在许多情况下能降低到不可测水平。
      请注意使用典型值和统计性能进行特征分析的开关解决方案。Viavi  mOSW-C1/mISW-C1 可以保证“更好的”性能水平，并提供了测试报告来证明这一点。测试系统设计者再也不用猜测可能的情况影响。与许多竞争产品不同，mOSW-C1/mISW-C1 开关决不会为了创造大量通道数而级联。不管开关尺寸如何，IL、PDL 和重复性都相同，并实现了真正的0.7 dB 损耗，从而大大简化了动态范围影响计算。   

同时适用于单模和多模应用
      mOSW 提供了单模 (SM) 光纤类型和两种标准多模 (MM) 光纤类型，OM1(62.5μm核心）及 OM3（50μm核心），每种类型都有特定的设计。
      与使用反射切换技术的微机电系统 (MEMS) 的设计不同，扩张 Viavi 光束设计能在偏振相关损耗性能的极限运行，并且几乎没有波长相关损耗。
      随着数据中心和存储应用程序的增长，多模性能是制造商关注的最重要问题。Viavi 在 2003 年创造的“Modal-transparency”（模式透明度）一词描述了光开关与各种传输的光模的交互。模态上透明的开关确保当光穿过开关时，输入模场分布保持不被干扰。这样可以大程度地减少传输测试过程中的任何假光损——在这种光损中会发生光模削波或散射成高阶光模的情况，从而可能降低 BER 性能。对于 IL 测试应用，mOSW-C1/mISW-C1 保留了严格的 IEC 规定的启动条件。开关插入损耗指定使用 IEC启动条件，确保其是可重复性出色的开关设备。

切换时间
      切换时间可分为两个主要组成阶段。第一个切换阶段是用于切换连接（从断开到闭合）的纯粹机电时间。第二个切换阶段是稳定时间，这段时间内将达到稳定的插入损耗，并且性能达到规格的峰值水平。如果测试设计人员跳过第二个时间阶段，测量不确定性会增加。
      Viavi 对 mOSW-C1/mISW-C1 进行了仔细优化，可以实现快的切换时间，并仍能满足光学性能要求。通过对稳定动态过程进行特征分析，Viavi设计出了能够详细列出稳定时间的开关。知道这一点，测试工程师将能满怀信心地确定何时进行测量，以及如何以优化方式对测量性能进行优化。

功率校正选项 (PTRIM)
      “功率校正”是为端口数小于80的单模1C版本提供的一个新选项。它提供了两项新功能，用于简化集成和远程故障排除。
双向功率监控器
      光功率显示在图形用户界面 (GUI) 上公用端口（端口 1）的旁边，并指明传输方向。双向功率监控器可自动感知以输入或输出方式使用公用端口的情况。内联功率监控器可大大简化远距离工厂的远程故障排除。测试工程师可通过远程方式登录到 MAP-200 来验证任何特定已连接测试路径的功率电平精度。
损耗校正
      用户可以使用可编程校正指数将已连接光路的插入损耗增加最多 20 dB。校正功能简化了设置功率电平的操作，而无需精确的精度。例如，在系统测试过程中将信号置入接收器端口中的电平，或者使激光信号脱离饱和区域的电平。
 

可降低成本的配置
尺寸和灵活性
      MAP-200 提供了许多开关尺寸和包装选项。mOSW-C1 针对较小的 1x2、2x2 至 1x24 通道数进行了优化。配置选择将确定是交付单插槽还是双插槽模块，同时模块有尾纤和法兰连接器版本，如下图所示。

带有法兰的单槽位和双槽位模块，后面是带有尾纤出口的单槽位和双槽位模块

      运行mOSW需要与MAP-200 机箱（有 2 插槽、3 插槽或 8 插槽机架式或台式版本）。

安装在 MAP-220C 中的 mOSW-C1

      为 mISW-C1 开关盒也提供了类似选择。如图所示，如果通道数少于 76 个，则在 MAP-202C 中提供光开关盒。较大的 4U MAP-204C可容纳多达 176 个开关输出。必须选择机箱作为开关盒配置的一部分。
这些系统不是模块化系统，开关盒出厂时安装在机箱中。可以取出，但仅用于维修和保养目的。

带有法兰或尾纤的 2 RU MAP-202C

输出端口数超过 76 个的开关可以使用 4U MAP-204C
 

紧凑的设计
      MAP-200 是紧凑的光学测试平台，其各项设计比传统的光学测试设备通常要小巧3/4。紧凑的设计可以减少所需的原材料，减少所需的主机数，节省总体空间，因此能够降低生产成本。
      Viavi 光开关技术紧凑的外形允许将多个独立的开关封装到一个 MAP-200模块中。例如，可以将多达 8 个 1x2 模块封装到一个单插槽模块中，从而只需 19 英寸高的 3U 机架就可放下 64 个 1x2 开关。或者，可以将多达16 个 1x4 模块封装在同一空间中。
      通过减少模块数量，还可以节省机架系统总空间，将自动测试系统的支架数量从两个减少为一个。在现代的合同制造情形中，单支架测试系统的运输成本更低、更易于部署，并且只需要一半的占地面积。
利用开关类型（1C、2D、2E）
为了简化测试系统集成，mOSW-C1/mISW-C1支持三种独特的输入类型，如图所示：
     标准单一公共输入（1C 类型）
     双工输入（2D 类型）
     双并行输入（2E 类型）

      D 和 E 类型通常称为“联动”输入开关。A 和 B 输入的相关位置已锁定，无法更改。不过，利用这些多重连接的路径将有可能节省成本。

      如果测试系统有清晰的传输 (Tx) 和接收 (Rx) 路径，则双工配置功效最好。如图 8 所示，一个 2Dx4 开关可替代两个 1Cx4 开关。移除一个开关可以降低相对测试系统成本，同时节省模块空间并大大简化测试顺序（只需一个命令便可选择进行测试的 Tx/Rx 端口）。使用 2E 版本的优势在于：它允许 A 和 B 输入访问所有输出；因此，可以将 2E 部署为 2D或 1C，具体情况视测试需求而定。

将带 2 个 1Cx4 的系统转换为带单一 2Dx4 的系统

规格

光学和环境
mISW-C1，mOSW 1x4 配置及更大配置

*对于设置为零的 PTRIM 指数，将呈现所有规格。
注意：
1. 所有光学测量（不包括连接器），在温度已稳定至少一小时后进行，环境室温介于 20–30°C，变化不超过 ±3°C
2. 适用于符合 IEC 60793-2-50 B1.3 类/ISO 11801 OS2 标准的光纤，例如 Corning SMF-28e
3. 适用于符合 ISO/IEC 11801 标准的 OM1 和 OM3 光纤类型
4. 不包括连接器；对于 SM，在 1310 和 1650 nm 处测试，对于 MM（包含符合 IEC 62614 ED1.0 2010 标准的 EF），在 850 和 1300 nm 处测试
5. RL（不包括连接器，尾纤长度为 2 米）；对于 SM，在 1310 和 1625 nm 处测试，对于 MM（包含符合 IEC 62614 ED1.0 2010 标准的 EF），在 850 和 1300 nm 处测试
6. 在 1310 和 1650 nm 处测试的 PDL
7. 在超过 100 次循环的两个连续读数之间测得
8. 7 天（168 小时）内环境温度偏差为 ±3°C的条件下，相对于参考通道的任何通道漂移
9. 对典型功率校整曲线进行特征分析时使用的波长为 1550 nm，仅供参考；实际性能可能因所使用的通道和波长而异

规格

光学和环境
mOSW-C1，1x2 和 2x2

 注意：
1. 所有光学测量（不包括连接器），在温度已稳定至少至一小时后进行，环境室温介于 20–30°C 之间，变化不超过 ±3°C。
2. 适用于符合 IEC 60793-2-50 B1.3 类/ ISO 11801 OS2 标准的光纤（例如，Corning SMF-28e）。
3. 适用于符合 ISO/IEC 11801 标准的光纤的光纤类型 OM1 和 OM3。
4. 不包括连接器。对于 SM，在 1310 和 1650 nm 处测试，对于 MM（包含符合 IEC 62614 ED1.0 2010 标准的 EF），在 850 和 1300 nm 处测试。
5. RL（不包括连接器，尾纤长度为 2 米）。对于 SM，在 1310 和 1625 nm 处测试，对于 MM（包含符合 IEC 62614 ED1.0 2010 标准的 EF），在 850 和 1300 nm 处测试。
6. 在 1310 和 1650 nm 处测试的 PDL。
7. 在超过 100 次循环的两个连续读数之间测得。
8. 7 天（168 小时）内环境温度偏差为 ±3°C 的条件下，相对于参考通道的任何通道漂移。

规格

包装