型号：mSWS 名称：MAP_mSWS 波长扫描系统
型 号：mSWS名 称：MAP_mSWS 波长扫描系统产品简介：MAP可用于在研发及生产环境下测量光器件和模块的特性
详细信息：
可在不到 5 秒的时间内完成多端口器件的 C 波段特征测量，同时取到大的动态范围和精确的波长分辨率
获得专利的并行测试架构可在初始少量投资的情况下极大提高生产产出
可使您在下一代 CDC 器件制造中遥遥领先其他竞争对手
与前几代 SWS 相比，对使用空间要求减少 50%
备有现场服务选项，可帮助大限度地提高生产运行时间
可用于在研发及生产环境下测量光器件和模块的特性。
ROADM 、波长选择开关、波长阻断器
光学电路集成板
密集波分复用器 (DWDM)
可调谐滤波器、耦合器、分光器、开关、衰减器、梳状分波器
微机电系统 (MEM) 和波导器件
兼容 IEC 61300-3-29 和 IEC 61300-3-12
符合 CE 要求以及 UL3101.1 和 CAN/CSA - C22.2 No. 1010.1 的要求。光源模块 (SWS20010) 中的激光光源属于 1 类激光源。可调谐激光光源 (SWS17101) 是一个 3B 类的激光器。模块和激光光源的分类均符合 IEC 标准 60825-1(2002) ，并符合 21CFR1040.10 要求，但偏差符合 2001 年 7 月发布的 Laser Notice No. 50 。
基于 MAP 的新型波长扫描系统 (mSWS-A2) 已成为行业测量标准。分布在全球各地的 100 多家制造商在研发 (R&D) 和生产环境中都依赖 SWS 来测量与波长呈函数关系的插入损耗 (IL) 、偏振相关损耗 (PDL) 、回波损耗 (RL) 和波长相关方向性。新型 mSWS-A2 在测试速度、精度和分辨率方面均树立了新的标准，同时又维持了其获得专利的分布式架构，从而可提供成本更低的测试。
mSWS 系统可用于验证最新的光学器件和模块的学性能，包括：任何波长 (Colorless) 、任何方向 (Directionless) 、任何竞争 (Contentionless) 的 (C/D/C)ROADM ，大端口数的波长开关，可调谐光滤波器及光学电路集成板。现在，通过利用新一代 SWS2000 可调谐激光器和光源模块 (SOM) 的功能，新型 mSWS 系统在 JDSU MAP-200 光电测试系统的基础上又增加了下一代的测量接收器。
mSWS 在整个 1520 至 1630 nm 范围内具有 ±0.002 nm 的绝对波长精度，并可在 40nm/s 的扫描速率下保持全部的性能特征，为前几代产品的两倍。最新添加的可变波长分辨率功能可使用户选择更精确的波长分辨率，其范围从 0.4 至 3pm 。
得益于 >70dB 的动态范围， mSWS 可提供更好的性能以及较低的拥有成本。由于采用荣获专利的分布式架构，每个光源模块可支持多达八个分立并独立的测量站。最初，该产品通常被用作一款研发工具，而后这种测量站在数量上的可扩展性，为客户从研发到生产的过度提供了很大的灵活性。现有的 SWS 用户可通过添加新型的 mSWS-A2 测量站来对原有的 SWS2000 系统进行升级，这样可以在已投资的基础设施上使现有的 SWS 用户收益。
SWS 可直接测量与波长呈函数关系的插入损耗和 PDL ，并可选配 RL 模块测量回波损耗。
使用 IL 和 PDL 原始数据，该应用软件可以提供一套能够计算以下各值的全面分析工具：
峰值损耗
x dB 门限下的 中心波长
中心波长损耗
x dB 门限下的 带宽
信道串扰、左 / 右和累计
平坦度
这些参数均可相对于测量峰值、 ITU 信道间隔或用户自定义信道间隔进行计算。
mSWS-A2 提供一系列可用于根据自定义测试要求开发软件的动态链接库 (DLL) 。 DLL 功能通过 mSWS 接收器硬件实施，从而允许访问所有 SWS 功能。通过使用随附的 DLL ，用户可在 Visual Basic ™、 C 、 C++ 或 LabView 环境下开发应用程序。
位于 SOM 内部的四状态偏振控制器可以快速测量与波长呈函数关系的 PDL 和平均损耗。它可测量包括 0 °、 90 °、− 45 °及圆偏振态的四种偏振态，并可使用 Mueller 矩阵分析来准确测量所有被扫波长的 PDL 。
将 mSWS 功能集成到 MAP-200 平台可使用户使用 MAP-200 应用模块的全部功能。测试系统可通过额外的光开关和激光光源实现自动测试。同时， MAP-200 还适用全系列的连接器检查工具，以确保污染连接器不会对测量结果产生影响。
参数 | 规格 |
波长 | |
范围 | 1520.086 至 1630nm |
精度 | ±2pm（绝对精度） |
分辨率 | 用户可在 3、1.5、0.75 或 0.4pm 之间选择 |
测量时间（并行测量所有通道） | |
SOM 扫描速率 | 10、20、40nm/s |
C 波段时间（1520至1570nm）① | 10nm/s <9秒；40nm/s <5.5秒 |
CL 波段时间（1520至1630nm）① | 10nm/s <16秒；40nm/s <7.5秒 |
插入损耗 | |
测量范围② | 70dB |
噪声④10nm/s的扫描速率时 | 0至–20dB：< ±0.005dB |
基本不确定度③ | ±0.03dB |
分辨率 | 0.001dB |
10 nm/s时的最大斜率轨迹 | 0至–60dB：IL >0.4dB/pm |
回波损耗 | |
测量范围⑤ | 60dB |
噪声④10nm/s的扫描速率时 | 0至–20dB：< ±0.02dB |
PDL | |
测量范围⑥ | 50dB |
噪声④10nm/s的扫描速率时 | 0至–20dB：< ±0.01dB |
分辨率 | 0.001dB |
① 在持续扫描模式时。
②DUT 的输入功率 >−10dBm 。
③ 去除噪声和斜率误差的 IL 总不确定度，假设连接 SOM 到 mSWS-A2RX 接收器的跳线保持静止，使用 FC/PC 连接器连接 mSWS-A2DM 检测器，温度范围 ±1 °C
④ 噪声值为 3 X 标准偏差。
⑤ 需要 ORL 测试模块，其与 mSWS-A2DM 和 mSWS-A2RX 模块组合使用。
⑥DUT 的输入功率为 − 10dBm ，扫描速率为 10nm/s 。扫描速率提高时，测量范围减少。
SWS2000 核心系统 | |
订货号 | 说明 |
SWS17101 | C+L 波段可调谐激光器 |
SWS20010-B-2 | 双输出集成光源光模块 (SOM) |
SWS20010-B-4 | 四输出集成光源光模块 (SOM) |
SWS20010-B-8 | 八输出集成光源光模块 (SOM) |
MAP-280 | MAP-200 8 槽位主机 |
mSWS-A2DM | mSWS 四端口检测器模块 |
mSWS-A2RX | mSWS 远程测试接收器 |
mUTL-A1000 带选配 MUTL-A150LR | ORL 测试模块 |
SWS2000 选配设备及附件 | |
订货号 | 说明 |
AC100 | 检测器帽 |
AC901 | FC 检测器适配器 |
AC102 | ST 检测器适配器 |
AC903 | SC 检测器适配器 |
