LAM Beam Analyzer USB用于高功率光斑检测，将聚焦的光斑直接输入入射光孔即可测量出功率、光斑位置、光斑尺寸等参数，该款产品适用于QA或者实时检测。
机械结构设计紧凑，外接气体即可冷却，无需通水，最大可测4kW的CW激光器。动态范围大，测试光斑尺寸从几个μm到9mm。
产品特点：
与工作台上对高功率直接测量
内置的空气冷却接口
工业用刀口仪
采用层析图像重建技术
可测光斑从35μm-8mm
光斑，位置，功率参数测量
产品参数：
传感器类型 | Si-刀口仪 |
光谱范围 | Si350-1100nm |
刀口数 | 7刀口，图像重构技术 |
光斑尺寸 | 35μm-8mm |
光斑尺寸测试精度 | ±2% |
功率范围 | <4kW(Filter & 主动通气冷却) |
功率精度 | ±5% |
位置精度 | ±15μm |
位置分辨率 | 1μm |
测量速度 | 5Hz |
重量 | 1500gr |
PC interface | USB2.0 (PCI optional) |
可选附件 | ND Filter |