热功率、热电势、或塞贝克系数描述的都是材料在一定温差条件下产生感应热电电压的大小，单位是V/K。
近年来直接将热能转化成电能的方法引起人们的广泛兴趣。通过热电装置收集热发动机和燃烧系统余热并转换成电能可以节省数十亿美元。
为了应对一系列挑战性的应用，Linseis已经开发出LSR-3 Seebeck系数/电阻率测试系统用于分析材料和器件的特性。
LSR—3测试系统可以同时测量塞贝克系数和电阻（电阻率）
可以测量圆柱形或棱柱形的样品，长度6——23毫米
利用独特的测量适配器可以测量线状和薄片状样品
通过三种可更换的炉体，测量温度范围可以覆盖-100到1500 ℃
样品架的设计保证了极好的测量重复性
32位软件可以通过程序实现自动测量
测量数据导出
测量原理:
圆柱形或棱柱形的试样垂直放置的两个电极之间，下部电极块包含一个加热器。整个测量装置放置在炉体中。将整个炉体和样品加热到特定的温度，在此温度 下利用电极块中的二级加热器建立一组温度梯度，然后两个接触热电偶测量温度梯度T1和T2。独特的热电偶接触机制保证了以高的温度精度测量每个热电偶上 每条导线电动势dE。
材料的热物理性质以及最终产品的导热优化在各种工业应用领域变得越来越重要。经过几十年的发展，在测量各种固体、粉末和液体热导率和热扩散系数中闪射法已经成为常用的测量方法。
LFA 激光导热系数测试仪采用模块化设计的精密的热扩散系数，热导率和比热的测量仪器。可同时测量6个样品。可通过更换炉体使测量温度范围从-100—1500 °C。
可以选用多种不同的样品架，适用于固体，液体，熔体和炉渣。紧凑的设计使得硬件和电子元件分离，安装一个外罩后可以适应于核应用。
产品规格
型号 | LSR-3 PART |
温度范围 | -100 至 500℃ RT 至 800/1100/1500℃ |
测量原理 | 赛贝克系数：静态直流法 电阻率：四端法 |
气氛 | 惰性，氧化，还原，真空 |
样品支架 | 三明治结构夹与两电极之间 |
样品尺寸（圆柱形或棱柱形） | 2 至 5 mm（面宽），23mm φ6mm，23mm |
样品尺寸（圆盘状） | 10, 12.7, 25.4 mm |
可调探头距离 | 4, 6, 8 mm |
冷却水 | 需要 |
赛贝克系数测量范围 | 1至2500μV/K 准确度±7%；重复性±3% |
电导率测量范围 | 0.01 至 2*105s/cm 准确度±5-8*%；再现性±3% |
电源 | 0到160mA，具长期稳定性 |
电极材料 | 镍（-100至500°C）/铂（-100至+1500°C） |
热电偶 | K/S/C型 |
导热系数 | |
脉冲源 | Nd:YAG激光器（25焦耳） |
脉冲持续时间 | 0.01 至 5ms |
检测器 | InSb/MCT |
热扩散系数测量范围 | 0.01 至 1000mm2/s |
软件
所有的LINSEIS热分析设备都是用计算机控制的，各个软件模块仅在Microsoft ® Windows®操作系统上运行。完整的软件包括3个模块：温度控制，数据采集和数据分析。与其他热分析系统一样，该32位Linseis软件可以实现所有测量准备、实施和评估的基本功能。
文本编辑
重复测量可少的输入参数
实时测量分析
测量曲线比较：多达32条曲线
曲线扣除
曲线放大缩小
一阶/二阶求导
多重峰分析
样品温度多点校正
焓变多点校正
热流Cp测量
评估结果保存及导出
ASCII数据导入与导出
数据生成到MS Excel
信号控制测量测序
脉冲校正
热损耗修正
2层或3层结构样品测量模式
测量模式向导功能
比热测定
多层系统中接触电阻测定
相关测试参数的自动或手工输入：密度、比热
模型向导：选择合适的模型
脉冲校正
热损耗修正
多层模型
接触电阻的测定
比较法测定比热
简单和友好的数据输入界面：温度段，气体等
可控制的自动进样器
软件自动显示电能脉冲后的测量校正
多样品全自动测量
应用
半导体、金属与合金
汽车/航空/航天，开发研究和学术研究，半导体行业/传感器/热电发电机/制冷设备
典型的含碲化合物热电材料在室温至200 ℃温度范围进行测试，电阻率和Seebeck系数在该温度区间的曲线见下图。
陶瓷/玻璃/建材，金属/合金，无机物
陶瓷，建材和玻璃工业，汽车/航空/航天，发电/能源，工业研发和学术科研，金属/合金工业，电子工业
在本例中用纯金属铜和铝来证明Linseis激光闪射装置的性能。这两种材料的测定结果与文献值进行比较。测得的结果与定文献值比较差别在2％以内，体现了仪器的优异性能。
标准激光闪射的参考材料耐热玻璃9606是用于在军事领域和在透明材料的玻璃 - 陶瓷。不同于金属台面，玻璃陶瓷易于清洁，具有很高的耐划痕，腐蚀和化学侵蚀性能。
这幅图显示了Linseis LFA 1000测量的热扩散系数和日本AIST*测量值的对比。这种各向同性石墨的测量值与AIST测量的标准值相差只有不到2%。 . *(AIST是National Institute of Advanced Industrial Science and Technology, Japan的缩写)
