GMDIC-200微分干涉工业检测显微镜配置配置高品质的微分干涉相衬物镜与DIC插件，使观察时在正交偏光的基础上，插入DIC棱镜，即可进行DIC微分干涉相衬观察。使用DIC技术，可以使物镜表面微小的高低差展现出清晰，轮廓突出带立体感的浮雕成像，极大的提高图像的对比度。GMDIC-200微分干涉工业检显微镜适用于对工件表面的组织结构与几何形态进行显微观察。采用优良的无限远光学系统与模块化功能设计理念，导柱升降装置，可以快速调整工作台与物镜之间的距离，适用于不同厚度工件检测。机械移动式载物平台可有效定位工件观察部位。调焦机构采用圆柱滚子导向传动，机构升降平稳。产品适用于精密件，集成电路，包装材料等产品检测。
显微成像系统简介：
      GMDIC-200P电脑型微分干涉相衬金相显微镜 GMDIC-200S数码型微分干涉相衬金相显微镜通过配置摄像观察（CCD接头、数码相机接头、数码单反相机接头等）可实现高清晰的数码摄录和摄像观察方式。成像系统将通过光电转换与计算机，数码相机以及电视机等设备结合在一起，不仅可以在目镜上观察到清晰明显的显微图像，还能在显示屏幕上观察实时动态高清图像，还可在计算机，数码相机上将所需要的图片进行编辑、保存和打印。
仪器特点：
«  采用优良的无限远光学系统，可提供卓越的光学性能；
«  紧凑稳定的高刚性主体，充分体现了显微操作的防震要求；
«  符合人机工程学要求的理念设计，使操作更方便舒适，空间更广阔；
«  机械式移动载物平台，适合于显微观察或多试样快速检测；
«  模块化的功能设计，可以方便升级系统，实现暗场观察等功能；
«  粗微动同轴调焦，粗动采用手动调节模式，微动采用电动调节模式；
技术规格 ：

GMDIC-200微分干涉金相显微镜选配件：

1. 分划刻度目镜WF10X/Ф22mm 格值0.1mm/div

2. 二维图像测量软件GM-2000M

3. 金相分析软件GM-JX2000