拥有蔡司Xradia 800 Ultra X 射线显微镜，您可以实现低至50 nm 的空间分辨率，这是业界实验室X射线成像系统最优的水平。由于无损 3D 成像在如今的突破性研究中有重要的作用，您将会体验到无与伦比的优异性能和灵活性。创新的 Xradia Ultra 系列具有吸收衬度和相位衬度的功能，X射线能量为 8KeV，并使用独有的由同步辐射光学器件改造而来的附件。 Xradia 810 Ultra 在研究材料随时间的演变（4D）中，可实现无与伦比的原位和4D性能，拓展了3D X射线成像技术在材料科学，生命科学，自然资源和各种工业应用领域的局限。
Xradia 800 Ultra 的最小分辨率低至50 nm，使微观结构和进程可视化，这些是传统实验室 X 射线技术不能实现的。在 X 射线能量为8 KeV下运行，极佳的穿透力和衬度适合各种材料，使您可以观察自然状态下的结构和材料。
集成相位衬度技术的 Xradia 800 Ultra 运用 Zernike 方法在吸收衬度低时可增强晶界和材料交界处的可见度，使未染色的超结构和纳米结构可视化。
蔡司Xradia 800 Ultra 采用类似横切法的无损技术，提供可信赖的内部 3D 信息。大工作距离和空气样品环境使您可以轻松的进行原位研究。