产品描述：

白光于涉测量技术广泛应用千光滑与粗糙表面的三维形貌表征。垂直方向的测量精度可以达到纳米级别。

SmartW LI- Extended 扩展型白光干涉三维轮廓仪拥有纳米级测试精度，外接PC或笔记本电脑进行实时数据分析。

SmartW LI- Extended 扩展型白光干涉三维轮廓仪功能全面，轻松应对各种测试环境。电动XY   双轴样品台匹配自动拼接程序，应对大面积测试任务。典型应用包括科学研究、质量控制和工艺管理。

SmartW LI- Extended 扩展型白光干涉三维轮库仪测速快，精度高，实时生成测量和分析数据，是产品标定和工艺控制的最佳选择。