AFTvision CL带同轴光工业显微镜头采用全新超低失真、高分辨率设计,具有清晰度高,倍率固定,光学无畸变,高对比度等特点。镜头上带同轴光源接口设计,多种结构,多种开口方向,适合不同坏境下使用,能配合百万像素以上1/3,1/2,2/3工业相机使用,用于同轴照明下才能观察到的具有反射特性的显微物体,如晶片或液晶玻璃底基校正等机器视觉系统中。
镜头参数对照表
型号 | 放大倍率 | 工作距离(mm) | 视场H×V(mm) | 接口 | 最大兼容CCD | 外形尺寸 | 重量 | |
1/3”CCD | 1/2”CCD | |||||||
AFT-CL-A | 0.5X、0.6X、0.8X、1X、1.2X、1.5X、2X、3X、4X、5X、6X可选 | 210、200、180、150、135、100、80、70、50、45、30、25等可选 |
0.2mm-15mm |
0.2mm-15mm | C | ~1/2 | φ13、φ11 |
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AFT-CL-B | C | ~1/2 | φ26 |
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AFT-CL-C | C | ~1/2 | φ17 |
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AFT-CL-D | C | ~1/2 | φ13 |
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AFT-CL-E | C | ~1/2 | φ17 |
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AFT-CL-F | C | ~1/2 | φ18 |
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AFT-CL-G | C | ~1/2 | φ13 |
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1、 可按客户要求的工作距离及视场范围设计定做镜头,周期1-2周。
2、
镜头按顺序依次是A,B…G,下边方框镜头图片是组合型,箭头方向是镜头开口方向
广泛用于反射度极高的物体定位检测,如:金属、玻璃、胶片、晶片等表面的划伤检测,芯片和硅晶片的破损检测,MARK点定位,玻璃割片机、点胶机、SMT检测、贴版机等工业精密对位、定位、零件确认、尺寸测量、工业显微等CCD视觉对位、测量装置等领域。