适用于高功率的激光立体成形 
LAM U3 – 光斑质量分析仪

产品特点：

 - 可安装在工作平面上进行高功率激光光斑分析。

 - 内置风冷采样器。

 - 支持USB3.0接口, 采样区域大，分辨率高(2.35 M像素)。

 - 用于脉冲或连续激光器的12位数字输出。

 - 曝光时间可调。

 - 触发延迟可调。

 - 配套软件支持沿机器Z轴上的M平方因子测量 和焦深计算。

 - 可替换的衰减片。

详细规格参数：


注意: 设备在进行高功率曝光时应小心操作，连续曝光时间不能超 过5秒。

订购信息：

LAM-U3光斑分析仪: 产品包含一个支持350 – 1310 纳米波长测量 的相机，内置装有高功率衰减片的电动衰减片转轮以及固定用转 接头， 一套可更换的衰减片，USB3.0数据线，配套软件，装有用 户手册的光盘或U盘， 和一个便携包。