Shack-Hartmann 波前传感器

Shack-Hartmann (SH) 波前传感器在自适应光学中广泛使用。它的基本原理是把波前划分为若干个子孔径,在各个子孔径上分别测量两个正交方向上的波前偏导值,即波前斜率,然后根据子孔径上的波前斜率进行波前复原计算,得到整孔径上的波前位相.

PHASICS提供世界zui高分辨率的波前传感器，专利技术产品--4波横向剪切干涉，是在哈特曼基础上的进一步测试优化，这种技术可以直接测量以绝佳的分辨率和高动态可调范围，可以测量任意波前。此项革新性的技术及产品已经被越来越多的行业所应用，其产品可用于激光光束质量分析，光学产品的EFL,曲率半径、MTF、PSF等各项指标的测量

1.    SID4 visible &SID4 HR（可见光）

SID4（visible）波前分析仪可以同时对相位和强度进行测量，而且具有非常高的分辨率 (160x120)，SID4 HR波前分析仪拥有更高分辨率(400 x300)。基于相位的专利波前传感技术,它具有高分辨率，大动态以及更好的易用性。

主要特点

.高分辨率  160*120（SID4 visible）400*300（SID4 HR）

. 对发散或者平行光束均可以直接测量

.在400-1100nm范围消色差

.自我参照  对振动不敏感，容易调整

推荐用途 

激光：激光测量，适应光学仪器

光学：镜头测试，表面测量

生物学：适应光学显微镜

SID 4 详细规格

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　２．ＳＩＤ４　ＵＶ－ＨＲ（紫外光）

SID4 UV-HR 

    基于相位的专利技术, 在190纳米到400纳米波段，SID4 UV-HR波前分析仪（在紫外光谱范围内）具有超高的分辨率(250 x250)和极高的灵敏度(0.5 nm RMS)。因此SID4 UV-HR是完全适应光学组件描述(用于光刻、半导体)和表面检测(镜头,晶片……);

主要特点

．超高分辨率　２５０×２５０

．高灵敏度　　０．５ｎｍ RMS

．大型分析孔　８．０×８．０ｍｍ

.可以直接对光学器件表面进行测量

推荐用途

．紫外激光器：光束的测量和校正

．光学：紫外线光学（半导体）测试和表面测量。

ＳＩＤ４　ＵＶ－ＨＲ的详细规格

3.SID4 DWIR & SID4 LWIR-640 & SID4 IR-MCT(红外光)

    SID4 DWIR 

a.基于专利技术的SID4 DWIR是一个独特的波前分析仪，它覆盖中红外波段和远红外波段(3-5um& 8- 14um), 
对于MWIR和LWIR，它提供了高分辨率的测量(160 x 120)范围，完全适合红外目标，
镜头测试或光束测量的红外激光器(二氧化碳、光参量来源…);

   SID4 LWIR
b.SID4 LWIR是一个超高分辨率波前传感器，在长波红外区域(8-14um)相位的专利技术以及非制冷焦平面阵列技术使它简洁且易于使用,

因此很容易集成到光具座，远红外线镜头测试或激光光束测量链(二氧化碳激光器, LWIR来源……)。

       
    SID4 IR-MCT

c.这种独特的波前分析仪拥有极高分辨率和超高灵敏度，并且它在短波红外成像的范围从1.2um到5.5um，因此它完全适在低光红外源,如以黑体或镜头为目标的测试或红外光谱的激光光束测量。

主要特点及推荐应用 

a.    SID 4 DWIR 

特点

高分辨率     160*120

双频         MWIR&LWIR波段

消色差       兼容黑体

高数值孔径测量  没有中继透镜

应用

1.    光学测量, SID4 DWIR在描述红外目标(热成像和安全愿景)，红外镜头(CO2激光器)，MTF,PSF,以及Zernike畸变是非常完美的工具，它也可测试多个波长可能存在的色差

2.    在表征激光束的CO2激光器或红外激光源，SID4 DWIR提供了一个全面的光束特性(畸变,M²,强度剖面图,光束参数…)

b．SID4 LWIR

特点

高分辨率     160*120

   消色差        8-14um

   超长波段      1.2-5.5um

   高数值孔径测量  没有中继透镜

   便于集成

应用

1.对于光学计量,SID4 LWIR是一种独特的工具，用来描述光学的红外热成像,安全性或安全愿景等，并且它也是组成CO2激光器的光学部件，它提供了MTF和畸变。由于它的简洁性，因此可以在工作台或者生产线上进行简单的集成。

2.在激光计量方面,SID4 LWIR给出了全面的光束特性(M²,Strehl radio,强度剖面图,光束参数…)。它适用于远红外线光束测量如CO2激光器,LWIR光参量激光器等

c. SID4 IR-MCT

 特点

超高灵敏度    3nm RMS@3uW/cm^2

高分辨率      160*128

即使在低通量条件下依然具有高精确度

超长波段       1.2-5.5um

高数值孔径测量    在F/1前没有中继透镜

上一代冷却MCT探测器

应用

1.    对于光学计量,SID4 IR-MCT是一种独特的工具，用于描述红外目标或镜头MTF以及畸变和WFE。其高灵敏度也可以和黑体一起进行高光谱测试

2.    在激光计量方面,在低红外光范围，量子级联激光器或红外光谱激光器，SID4红外是现有唯一的工具。它提供了一个完整的光束特征参数(畸变,M²,强度剖面图,光束参数……)

具体详细参数