产品编号: 780536-01
NI 6124 产品规范本文档主要介绍 NI PXIe-6124 的产品规范。如需获得本文档的最新版本，请登录ni.com/manuals。 关于查阅
NI-DAQmx 光盘中文档的详细信息，见 DAQ入门指南。除非另外声明，否则下列规范的适用温度均为 25 °C。模拟输入
通道数 .........................................4 路差分
ADC 类型
分辨率 .................................16 位， 1/65536 流水线 .................................0
采样率
最大值 .................................4 MS/s，单个通道最小值 ................................. 无
输入阻抗
AI – － AI GND ...............>100 GΩ，与 10 pF 电容 AI + － AI GND ...............>100 GΩ，与 10 pF 电容
并联
输入偏置电流............................±10 pA 输入耦合.....................................DC
|
所有模拟输入通道的最大工作电压
正输入 (AI +).....................±11 V 全量程，
Measurement
Category I
负输入 (AI –).....................±11 V 全量程，
Measurement Category I
注意 在 Measurement Category II, III 和 IV 中，请勿使用设备进行测量。
过压保护 (AI +, AI–)............... ±36 V 过压时输入电流....................... ±20 mA，最大值输入 FIFO 容量......................... 16382 个采样，供所有通道
使用
数据传输..................................... DMA (scatter-gather)、
中断和已编程 I/O
通道间延迟................................ 5 nS 串扰 (100 kHz)......................... –100 dB CMRR(60 Hz).......................... 75 dB
DC 传输特性
INL................................................ ±1 LSB 常规值，
±2 LSB 最大值
DNL............................................. ±1 LSB 最大值，
无丢失代码
表 1 NI 6124 模拟输入特性（基于量程）
输入量程 | 带宽 * (MHz) | THD (dB, 100 kHz) | 系统噪声 (LSBrms) | SFDR 常规值 (dB)† |
±10 V | 2 | –100 | 0.95 | 100 |
±5 V | 2 | –97 | 1.0 | 100 |
±2 V | 2 | –95 | 1.3 | 100 |
±1 V | 2 | –93 | 1.9 | 100 |
* –3 dB 频率 † 测量频率为 100 kHz，不包括谐波。 | ||||
典型特性图
|
AI 绝对精度表
额定量程 | 残余增益误差（读数 ppm） | 增益温度系数 (ppm/°C) | 参考温度系数 | 残余偏置误差（量程 ppm） | 偏置温度系数 (ppm/°C) | INL 误差 （量程 ppm） | 随机噪声， σ (μVrms) | 全量程绝对精度 * (μV) | 灵敏度† (μV) | |
正全量程 | 负全量程 | |||||||||
10 | –10 | 165 | 18 | 1 | 40 | 9 | 64 | 290 | 3147 | 116 |
5 | –5 | 175 | 18 | 1 | 40 | 11 | 64 | 153 | 1636 | 61 |
2 | –2 | 195 | 18 | 1 | 40 | 18 | 64 | 79 | 714 | 32 |
1 | –1 | 215 | 18 | 1 | 40 | 28 | 64 | 58 | 393 | 23 |
绝对精度 = 读数 × ( 增益误差 ) + 量程 × ( 偏置误差 ) + 噪声不确定性增益误差 = 残余 AI 增益误差 + 增益温度系数 × ( 上次内部校准至今的温度变化值 ) + 参考温度系数 × ( 上次外部校准至今的温度变化值 ) 偏置误差 = 残余 AI 偏置误差 + 偏置温度系数 × ( 上次内部校准的温度变化值 ) + INL_ 误差 噪声不确定性 = 随机噪声-------------------------------× 3- 包含因子等于 3 σ，取样点等于 100。
* 模拟输入通道的全量程绝对精度建立在下列假设上：上次内部校准至今的温度变化值 = 10 °C 上次内部校准至今的温度变化值 = 1 °C 取样数量 = 100 包含因子 = 3 σ 例如， 10 V 量程时的全量程绝对精度计算如下： 增益误差 = 165 ppm + 18 ppm × 1 + 1 ppm × 10 增益误差 = 193 ppm 偏置误差 = 40 ppm + 9 ppm × 1 + 64 ppm 偏置误差 = 113 ppm
噪声不确定性 =噪声不确定性 = 87 μV 绝对精度 = 10 V × ( 增益误差 ) + 10 V × ( 偏置误差 ) + 噪声不确定性 绝对精度 = 3147 μV † 灵敏度是指能够检测出的最小电压变化值。 它是噪声的函数。 相对于设备外部校准，上表中给出精度的有效期为一年。 | ||||||||||
通道数 .........................................2 个电压通道
DAC 特性
分辨率 .................................16 位流水线 .................................0
采样率
最大值
单通道 .........................4 MS/s 双通道 .........................2.5 MS/s
最小值 ................................. 无 DNL..............................................±1 LSB，最大值单调性 .........................................16 位输出耦合.....................................DC 输出量程.....................................±10 V 输出阻抗.....................................0.4 Ω 输出驱动电流............................±5 mA 过压保护.....................................±25 V 过电流 .........................................10 mA
上电情况下毛刺........................1.5 V, 10 μs
稳定时间，全量程变化
15 ppm (1 LSB)......................2 μs 边沿斜率.....................................20 V/μs
AO 波形模式：
• 非周期性波形
• 周期性波形重新生成模式，由板载 FIFO 生成
• 周期性波形重新生成模式，由包括动态更新的主机缓存生成
量程内转换的毛刺能量
幅值......................................30 mV 持续时间.............................200 ns
输出 FIFO 容量.........................8191 个采样
（所有使用中通道）
数据传输.....................................DMA (scatter-gather)、
中断和已编程 I/O
|
AO 绝对精度表
额定量程 | 残余增益误差（读数 ppm） | 增益温度系数 (ppm/°C) | 参考温度系数 | 残余偏置误差（量程 ppm） | 偏置温度系数 (ppm/°C) | INL 误差 （量程 ppm） | 全量程绝对精度 * (μV) | |
正全量程 | 负全量程 | |||||||
10 | –10 | 180 | 20 | 1 | 80 | 2 | 64 | 3,560 |
绝对精度 = 输出值 × ( 增益误差 ) + 量程 × ( 偏置误差 ) 增益误差 = 残余增益误差 + 增益温度系数 × ( 上次内部校准至今的温度变化值 ) + 参考温度系数 × ( 上次外部校准至今的温度变化值 ) 偏置误差 = 残余偏置误差 + AO 偏置温度系数 × ( 上次内部校准的温度变化值 ) + INL_ 误差 * 模拟输出通道的全量程绝对精度建立在下列假设上：上次内部校准至今的温度变化值 = 10 °C 上次内部校准至今的温度变化值 = 1 °C 全量程时绝对精度计算如下： 增益误差 = 180 ppm + 20 ppm × 1 + 1 ppm × 10 增益误差 = 210 ppm 偏置误差 = 80 ppm + 2 ppm × 1 + 64 ppm 偏置误差 = 146 ppm 绝对精度 = 10 V × ( 增益误差 ) + 10 V × ( 偏置误差 ) 绝对精度 = 3560 μV 相对于设备外部校准，上表中给出精度的有效期为一年。 | ||||||||
数字 I/O/PFI
静态特性
通道数 ......................................... 共 24 个通道，
8 (P0.<0..7>),
16 (PFI <0..7>/P1, PFI <8..15>/P2)
参考地 .........................................D GND
方向控制..................................... 每个端子可通过编程独立
配置为输入或输出
下拉电阻.....................................50 kΩ 典型值，
20 kΩ 最小值
输入电压保护[1] ..........................±20 V，最多加至 2 个端子波形特性（仅限 Port 0）
所用端子.....................................Port 0 (P0.<0..7>) 端口 / 采样容量........................ 可达 8 位波形生成 (DO) FIFO..............2047 个采样波形采集 (DI) FIFO.................2047 个采样 DI 采样时钟频率.......................0 ～ 10 MHz[2]
DO 采样时钟频率
由 FIFO 重新生成.............0 ～ 10 MHz 由内存重新生成.................0 ～ 10 MHz，
取决于系统 2
数据传输.....................................DMA (scatter-gather)、
中断和已编程 I/O
DO 或 DI 采样时钟源3 ........... 任意 PFI、 RTSI、
AI 采样或转换时钟、
AO 采样时钟、 Ctr n 内部输出和其它信号
功能 ............................................. 静态数字输入、静态数字输出、定时输入和定时输出
定时输出源................................ AI、 AO、计数器、
DI 和 DO 定时信号
反跳滤波设置............................ 可选输入：125 ns、 6.425 μs、 2.56 ms、禁用和高低瞬态
建议工作条件
电平 | Min | Max |
输入高电平 (VIH) | 2.2 V | 5.25 V |
输入低电平 (VIL) | 0 V | 0.8 V |
输出高电流 (IOH) P0.<0..7> PFI <0..15>/P1/P2 | — — | –24 mA –16 mA |
输出低电流 (IOL) P0.<0..7> PFI <0..15>/P1/P2 | — — | 24 mA 16 mA |
电气特性
电平 | Min | Max |
正向阈值 (VT+) | — | 2.2 V |
反向阈值 (VT–) | 0.8 V | — |
Delta VT 滞后 (VT+ － VT–) | 0.2 V | — |
IIL 输入低电流 (Vin = 0 V) IIH 输入高电流 (Vin = 5 V) | — — | –10 μA 250 μA |
3 数字子系统不具有专用的内部定时引擎， 因此必须由设备中另一子系统或外部源提供采样时钟。
数字 I/O 特性
© National Instruments Corporation 7 NI 6124 产品规范
计数器 / 定时器数量...............2
分辨率 .........................................32 位
计数器测量................................. 边沿计数、脉冲、半周期、
周期和双边沿隔离
位置测量..................................... 带复位通道 Z 的 X1、 X2、
X4 正交编码；双脉冲编码
输出应用..................................... 脉冲、动态更新的脉冲序
列、频分和等时分采样
内部时基.....................................80 MHz、 20 MHz 和
0.1 MHz
外部时基.....................................0 ～ 20 MHz 时基精度.....................................50 ppm 输入.............................................. 门、源、 HW_Arm、
Aux、 A、 B、 Z 和
Up_Down
输入连线选项............................ 任意 PFI、 RTSI、
PXI_TRIG、 PXI_STAR、模拟触发和内部信号
FIFO.............................................2 个采样
数据传输..................................... 用于每个计数器 / 定时器的 scatter-gather DMA
控制器、中断和已编程 I/O 频率发生器
通道数 .........................................1 时基..............................................10 MHz, 100 kHz 可分频数.....................................1 ～ 16 时基精度.....................................50 ppm
任意 PFI 或 RTSI 端子均可用作输出。锁相环 (PLL)
PLL 数..........................................1 个
参考信号.....................................PXI_STAR、
PXI_CLK10 或
RTSI <0..7>
PLL 输出......................................80 MHz 时基，由 80 MHz 时基衍生得到的 20 MHz 和
100 kHz 时基外部数字触发
源.................................................. 任意 PFI、RTSI、PXI_TRIG
或 PXI_STAR
极性.............................................. 多数信号为软件可选模拟输入函数............................ 开始触发、
参考触发、采样时钟、转换时钟和采样时钟时基
模拟输出函数............................ 开始触发、
暂停触发、采样时钟和采样时钟时基
计数器 / 定时器函数............... 门、源、 HW_Arm、
Aux、 A、 B、 Z 和
Up_Down
数字波形生成 (DO) 函数...... 采样时钟数字波形采集 (DI) 函数......... 采样时钟设备－设备触发总线
触发器......................................... PXI_TRIG <0..7>, PXI_STAR
输出选择..................................... 10 MHz 时钟、频率发生器
输出或内部信号
反跳滤波设置............................ 可选输入：125 ns、 6.425 μs、 2.56 ms、禁用和高低瞬态总线接口
构成 ............................................. x1 PXI Express 外设模块，
兼容版本 1.0 规范
插槽兼容性................................ x1 和 x4 PXI Express 或
PXI Express 混合插槽
DMA 通道................................. 6 个，模拟输入、模拟输
出、数字输入、数字输出、计数器 / 定时器 0 和计数器 / 定时器 1 电源要求
+12 V........................................... 1.5 A +3.3 V......................................... 1.2 A
I/O 接口可用电源.................... +4.65 ～ +5.25 VDC, 1 A 物理
尺寸（未包含连接器）.......... 标准 3U PXI,
16 cm × 10 cm
(6.3 in. × 3.9 in.) I/O 连接器................................. 68 针 VHDCI 最大工作电压
最大工作电压指信号电压与共模电压之和。
通道－地..................................... 42 V, Measurement
Category I
通道－通道................................ 42 V, Measurement
Category I
环境通常 NI 6124 只适用于室内。
最高海拔.....................................2000 m
（环境温度为 25 °C）
污染等级.....................................2 运行环境
环境温度范围............................0 ～ 55 °C
（依据 IEC-60068-2-1 和 IEC-60068-2-2 进行测试。符合 MIL-PRF-28800F
Class 3 低温限制和
MIL-PRF-28800F Class 2 高温限制。）
相对湿度.....................................10% ～ 90%，无凝结
（依据 IEC-60068-2-56 进行测试）
存储环境
环境温度范围............................–40 ～ 71 °C
（依据 IEC-60068-2-1 和 IEC-60068-2-2 进行测试，遵从 MIL-PRF-28800F
Class 3 标准。）
相对湿度.....................................5% ～ 95%，无凝结
（依据 IEC-60068-2-56 进行测试）
冲击和振动
运行环境冲击............................30 g 峰值，
11 ms 半正弦脉冲
（依据 IEC-60068-2-27 进行测试。遵从
MIL-PRF-28800F Class 2
标准。）
随机振动
设备工作.............................5 Hz ～ 500 Hz, 0.3 grms 设备未工作.........................5 Hz ～ 500 Hz, 2.4 grms
（依据 IEC-60068-2-64 标准进行测试。设备未工作时超出 MIL-PRF-28800F， Class 3 标准）安全性
产品设计符合以下测量、控制和实验室用途的电气设备安全标准。
• IEC 61010-1, EN 61010-1
• UL 61010-1, CSA 61010-1
注 关于 UL 和其它安全认证信息，请查阅产品标签或在线产品认证。
产品设计符合以下测量、控制和实验室用途的 EMC 标准。
• EN 61326 (IEC 61326): Class A 放射标准；基本抗 • EN 55011 (CISPR 11): Group 1, Class A 放射标准
• AS/NZS CISPR 11: Group 1, Class A 放射标准
• FCC 47 CFR Part 15B: Class A 放射标准
• ICES-001: Class A 放射标准
注 用于评估产品 EMC 的标准，见在线产品
注 关于 EMC 规范，请遵循设备使用说明。产品已达到现行欧盟产品规范的基本要求，如下所示：
• 2006/95/EC ；低电压规范（安全性）
• 2004/108/EC ；电磁兼容标准 (EMC) 在线产品认证
关于合规信息 (DoC)，见产品的合规声明。 如需获取本产品合规声明，请访问ni.com/certification，通过模
块编号或产品类型搜索，并在 “ 认证 ” 栏中查看相应链接。
NI 始终致力于设计和制造有助于环境保护的产品。 NI 认为减少产品中的有害物质不仅有益于环境，也有益于客户。
关于环境保护的详细信息，请登录ni.com/
environment，查看 NI and the Environment 页面。 该
页包含 NI 遵守的环境准则和规范，以及本文档未涉及的其它环境信息。电子电器设备废弃物(WEEE)
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National Instruments Ё RoHS ᗻ㾘ড়ֵᙃˈ 䇋ⱏᔩni.com/environment/rohs_chinaDŽ
(For information about China RoHS compliance, go to ni.com/environment/rohs_china.)
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图 2 NI 6124 引脚分布图
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© 2008–2009 National Instruments Corporation. 版权所有。 372526B-0118 2009 年 2 月
[1] 超出输入电压保护 范围的电压可能导致器件永久性损坏。
[2] 实际性能取决于总线延迟以及总线活动量。