α-SE是一款高性价比的光谱型椭偏仪。简约设计，理想的薄膜分析工具。计算机通过USB口控制仪器、数据采集。配置易用的数据分析软件 易于使用 带有高级选项的按钮式操作 软件
技术先进 基于旋转补偿专利技术
高速测量 十秒内完成180个波长的测量及数据的拟合
功能强 提供厚度、光学常数、表面粗糙、界面层等 各种数据 应用范围 适用于各类可见光谱段薄膜的研究及日常工艺控制
主要技术参数:
光谱范围: 390nm 到 890nm (180 个波长)
入射角: 65°、70°、75° 或 90°
与计算机连接方式: USB 口 (1.1 或更高)
样品台高度自动调节
数据采集时间: 3 秒 (快速模式)
10 秒. (标准模式)
30 秒 (长时模式)