V-VASE是一款经典的自动可变角，单色仪分光的光谱椭偏仪。可应用于半导体、电介质、聚合物、金属、等各类薄膜的研究和分析。自动相位延迟技术保证了测量准确性，精湛的工艺保证了测试重复性。具有灵活多变测试功能的V-VASE可用于各类研究中。

测量参数：   
    反射光和折射光的椭偏测量；  
   透射光和反射光的强度测量  
   各相异性材料的椭偏测量和交叉偏振R/T测量；  
   退偏和散射测量；  
   穆勒矩阵测量。  

    主要技术参数  
   光谱范围：240-1100nm，   
   紫外扩展 193－240nm，   
   红外扩展1100－2500nm。   
   变角范围20－90度。