IR-VASE可应用于红外材料光学特性的测量及分析，IR-VASE在半导体上可应用于掺杂浓度的测量。超宽光谱适合各种红外材料，旋转补偿技术保证测试数据的准确性。IR-VASE是红外椭偏仪中的顶尖产品。

测量参数  
   反射光和折射光的椭偏测量；  
  透射光和反射光的强度测量  
  退偏和散射测量；  
  穆勒矩阵测量。  
主要技术参数  
    光谱范围：1.7-33µm，   
     变角范围 26－90度。