产品专区
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Alpao波前传感器
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自适应光学-OKO变形镜
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Kaleo系列透镜测量设备
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紧凑型矢量光场生成系统
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ERIS纯相位型空间光调制器
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SpotOn Compact激光位敏功率测量仪
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MX 7012 晶圆高分辨率厚度和表面形貌测试仪
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MX 204半自动晶圆厚度测量仪
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LC 2012 透射式空间光调制器
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AngleMeter U3 激光角度仪
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MX 1018晶圆厚度和平整度测量仪
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GAEA-2 千万级像素(4094 x 2464 )纯相位空间光调制器
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MX 601非接触电阻率测量仪
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MX 608 晶圆厚度/非接触电阻率测量仪
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具有连续播放图像时同步驱动CCD记录图像功能的空间光调制器
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MX 604 单点晶圆厚度/电阻率测量仪
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MX 301非接触式单点晶圆测量仪
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MX 2012晶圆几何测量仪
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MX 203手动晶圆厚度测量仪
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高速液晶元件
沪公安网备 31011402003710号