法国Phasics公司自主研发的波前传感器是基于四波横向剪切干涉技术(4- Wave Lateral Shearing Interferometry) ,较传统的Shack-Hartmann技术具有独特的优势,具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态范围、操作简便等特点,为波前测量与光束分析提供了全新的解决方案!其配套软件界面友好,可输出高分辨率相位图与光束强度分布图 。
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