可控温度的工作台上,针对未封装的半导体激光Full Bar条或BOS(Bar on Submount)在大电流、短脉冲条件下进行无损伤、快速、准确的测试,并自动测定其光功率、电气、波长等特性,为研制和生产高性能的大功率半导体激光器提供强有力的保障。
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