SID4-NIR覆盖1.5μm至1.6μm的近红外区域。其专利技术可提供非常高的分辨率,确保精确测量。 并且还具有结构紧凑和易用性。 对于激光测量,SID4-NIR提供了详尽的表征:像差,M2强度分布,光束参数...... 对于镜头测试,SID4-NIR是表征近红外镜头的完美工具。 它一次性提供波前像差和MTF。
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