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膜厚测量仪F3
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全光科技
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现货
产品简介：
F3是我们最新、最先进的光普反射仪,搭配厚度与折射率的软件模组可以用来测量薄膜的特性,具备了这些软件

模组的F3,不但包含我们最畅销的F20的所有能力,而还具备了即时波长校准与寿命高达4万小时的光源,这意

着减少了客户长期维护的成本
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