GMDIC-200微分干涉工业检测显微镜配置配置高品质的微分干涉相衬物镜与DIC插件,使观察时在正交偏光的基础上,插入DIC棱镜,即可进行DIC微分干涉相衬观察。使用DIC技术,可以使物镜表面微小的高低差展现出清晰,轮廓突出带立体感的浮雕成像,极大的提高图像的对比度。GMDIC-200微分干涉工业检显微镜适用于对工件表面的组织结构与几何形态进行显微观察。采用优良的无限远光学系统与模块化功能设计理念
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