采用光腔衰荡技术分别或同时测量高反/高透激光薄膜元件的反射率(R)、透过率(T)或光学损耗(δ,吸收与散射损耗之和),最高测量精度优于1ppm。
以上信息由企业自行提供,信息内容的真实性、准确性和合法性由相关企业负责,光电汇对此不承担任何保证责任
温馨提示:为规避购买风险,建议您在购买产品前务必确认供应商资质及产品质量
如对产品存在的异议,请于20个工作日内与我们取得联系,我们将协调处理(下架或关闭店铺),联系方式:021-80198330
上海意桐光电科技有限公司所有 © 2014中国 上海 嘉定
沪ICP备 16039563号 -1
沪公安网备 31011402003710号