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反射光谱薄膜测厚仪
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产品品牌：
合肥科晶
交货周期：
现货
产品简介：
TEMS-LD是款反射光苷膜测厚仪，可快速精确吧测选明或半透明的厚度，其测量漠享范围为15nm
50um，仪所发出测式光的波长范里为400mm-1100nm，此款则试式系统理论基础为镜面反射率，并采用光纤反射探头。仪器尺寸小巧，方便于在实验室中擐放和使用
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