苏州波弗光电科技有限公司供应的SIT-200是一款基于SIT-200使用高速扫频可调谐激光探测硅片厚度的硅片厚度测试仪。 基于高速波长扫描的激光器可以实现每波长更高功率的测量,从而实现高动态范围,甚至在未抛光的晶片上也可以进行厚度测量,例如在湿法蚀刻期间/之后。
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